适用范围广:从紫外到远红外的任何连续或脉冲激光
紧凑型测量 对振动不敏感
多达 852 x 720 个采样点,具有纳米灵敏度
测量激光器波面强度曲线,光束参数等具体数据
测量波前像差
测量波前像差
激光参数测量
Spectral | Aperture | Spatial | Phase | Phase | Phase | Vaccum | |
SID4 UV | 190-400 nm | 7.8 ×7.8 | 26 um | 300 x 300 | 15 nm RMS | 2 nm RMS | - |
SID4 UV HR | 190-400 nm | 13.3 x13.3 | 26 um | 512 x 512 | 20 nm RMS | 2 nm RMS | - |
SID4 HR V | 400-1100 nm | 9.98 x 8.64 | 24 um | 416 x 360 | 20 nm RMS | 2 nm RMS | 10-6 mbar |
SID4 | 400-1100 nm | 5.02 ×3.75 | 27.6 µm | 182 x 136 | 10 nm RMS | <2 nm RMS | - |
SID4 HR | 400-1100 nm | 9.98 x 8.64 | 24 um | 416 x 360 | 20 nm RMS | <2 nm RMS | - |
SID4 UHR | 400-1100 nm | 15.29 x15.29 | 27.6 µm | 554 x554 | - | 5 nm RMS | - |
SWIR | 0.9-1.7 um | 9.6 x 7.68 | 120 μm | 80 x 64 | 15 nm RMS | <2 nm RMS | - |
SWIR HR | 0.9-1.7 um | 9.6×7.68 | 60 μm | 160 x 128 | 15 nm RMS | <2 nm RMS | - |
eSWIR | 1.2-2.2 um | 9.6 x 7.6 | 120 μm | 80 x 64 | <40 nm RMS* | <6 nm RMS* | - |
eSWIR HR | 1.2-2.2 um | 9.5×7.6 | 120 µm | 159 x 127 | <40 nm RMS* | <6 nm RMS* | - |
DWIR | 3-5 um | 10.08 x 8.16 | 68 μm | 160 x 120 | 75 nm RMS | 25 nm RMS | - |
Phasics 的波阵面传感器基于其专有的专利技术,可同时提供相位和强度测量,具有无与伦比的高分辨率。 SID4 波阵面传感器与其光束分析软件相结合,可对激光器进行全面诊断:波阵面像差、强度曲线、激光光束质量参数(M2、束腰尺寸和位置......)。Phasics 的波前分析仪可以安装在光学装置的任何位置,无论光束是准直的还是发散的。 Phasics SID4 波阵面传感器适用于从紫外到远红外的任何连续或脉冲激光,包括宽带可调谐光源、大功率激光链等。
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