产品中心

K+K多通道相位频率计数器

特点:每张卡对4个独立通道进行相位测量,频率范围4千赫兹……130兆赫兹,最小输入功率0分贝毫瓦
可通过添加额外的卡扩展至最多24个通道
单次测量分辨率:相位:12.2ps;频率:1.2×10⁻¹¹@1s
平均分辨率:相位:1ps@1s;频率:4×10⁻¹³@1s
参考时钟:外部10MHz时钟(可选内置恒温晶体振荡器)
测量间隔:1ms至20s
机箱:19英寸设备
接口:以太网、USB、RS232、CAN
配备完整的评估和可视化软件
可提供客户特定的软件适配

在线咨询

产品详情

K+K FXE 是一款多通道高精度相位频率计数器,可同步无死区地测量最多24个通道相对于公共参考信号(10 MHz)的相位。单次测量分辨率达12.2ps,输入频率范围为4 kHz至130 MHz,测量速率为1KS/s。一套 K+K FXE 系统最多可包含 6 块 FXE 测量卡(支持级联),每块测量卡可为 4 个独立通道提供相应输入信号的相位测量值。此处的"相位"指快速连续增长的绝对值,而非相对于参考信号的相位偏移量。

K+K FXE 系统可通过测量相位值计算出输入信号的频率,同时能便捷测定不同通道间的频率比,或检测被测设备输出信号相对于输入信号的缓慢相位漂移。通过长期测量及特殊数学算法处理,可显著提升测量精度。例如采用1秒闸门时间时,频率分辨率可达4×10⁻¹³。测量结果实时输出,适用于频率发生器的相位控制。板载微处理器可执行数据压缩处理,包括均值计算及通道间相位差运算等。

技术规格:

每张卡对4个独立通道进行相位测量,频率范围4千赫兹……130兆赫兹,最小输入功率0分贝毫瓦
可通过添加额外的卡扩展至最多24个通道
单次测量分辨率:相位:12.2ps;频率:1.2×10⁻¹¹@1s
平均分辨率:相位:1ps@1s;频率:4×10⁻¹³@1s
参考时钟:外部10MHz时钟(可选内置恒温晶体振荡器)
测量间隔:1ms至20s
机箱:19英寸设备
接口:以太网、USB、RS232、CAN

配备完整的评估和可视化软件

可提供客户特定的软件适配

系统标配配套PC软件,用于测量数据的采集、显示及存档。Windows©动态链接库(DLL)提供完整的通信协议处理与数据恢复功能,以ASCII编码的十进制浮点数格式输出数据,兼容各类编程语言环境。

针对超高精度应用场景,可在主板上选装K+K SCR参考相位扰码器。该模块在微处理器控制下,使10MHz参考信号的相位变化与相位平均周期同步,从而消除电子系统固有残余误差。加装K+K SCR后,系统在1秒平均周期下的相位检测本底噪声可低至1皮秒。

K+K FXE 系统提供以下可选扩展模块:

FXE-SCR相位调节模块:支持固定相位值偏移或相位范围扫描功能
FXE-FDI数字输入扩展卡:提供32路数字信号输入通道
FXE-DCP显示控制面板:集成测量数据显示与设备控制接口

FXE-SWP切换电源模块:专用电源供应单元


可搬运镱离子光钟钟跃迁光组成框图(1)


(1)资料来自于:Khabarova, K.; eta, N. Toward a New Generation of Compact Transportable Yb+ Optical Clocks. Symmetry 2022,14, 2213.

询价留言

如有意向购买产品或者相关技术咨询,请联系我们

姓名*

电话*

公司名称*

请输入您感兴趣的产品或研究方向*